HN11A互感器綜合測(cè)試儀伏安特性綜合測(cè)試儀

功能簡(jiǎn)介：

變頻式互感器特性綜合測(cè)試儀是一種為測(cè)試互感器：PT、CT（保護(hù)類(lèi)、計(jì)量類(lèi)）、伏安特性（勵(lì)磁特性）曲線(xiàn)、自動(dòng)給出點(diǎn)值、自動(dòng)給出5%和10%的誤差曲線(xiàn)、變比測(cè)量、比差測(cè)量、相位（角差）測(cè)量、極性判斷、一次通流測(cè)試、交流耐壓測(cè)試、二次負(fù)荷測(cè)試、二次繞組測(cè)試、鐵心退磁等設(shè)計(jì)的多功能現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)儀器。 制動(dòng)噪聲這一故障，幾乎每個(gè)的車(chē)輛都會(huì)遇到。這主要是因?yàn)橹苿?dòng)是通過(guò)劇烈的摩擦的方式進(jìn)行工作的，工作形式比較暴力，所以故障率也較高。尤其是采用碟式剎車(chē)的車(chē)輛出現(xiàn)該問(wèn)題的概率會(huì)高一些，而采用鼓式剎車(chē)的相對(duì)低一些。本文將對(duì)制動(dòng)噪聲的測(cè)試方案進(jìn)行介紹。制動(dòng)噪聲測(cè)試系統(tǒng)是專(zhuān)門(mén)用于車(chē)輛道路試驗(yàn)中，制動(dòng)時(shí)監(jiān)測(cè)制動(dòng)系統(tǒng)工作狀態(tài)的測(cè)試系統(tǒng)并準(zhǔn)確判斷制動(dòng)噪聲是由哪個(gè)車(chē)輪產(chǎn)生的，系統(tǒng)同步采集工況下制動(dòng)次數(shù)，制動(dòng)噪聲產(chǎn)生的次數(shù)，每個(gè)輪（左前輪、右前輪、左后輪、右后輪）產(chǎn)生的制動(dòng)噪聲的次數(shù)，每次制動(dòng)噪聲產(chǎn)生時(shí)制動(dòng)結(jié)構(gòu)的振動(dòng)、剎車(chē)片的溫度、制動(dòng)管路的壓力、車(chē)速、車(chē)輛的減速度等信息。

1、工作電源：AC220V±10% 、50Hz

2、設(shè)備輸出：0～220Vrms， 5Arms（20A峰值）

3、大電流輸出：0～1000A

4、二次繞組電阻測(cè)量范圍：0.1～50Ω

5、二次繞組電阻測(cè)量準(zhǔn)度：≤0.5%、分辨力0.01

6、二次實(shí)際負(fù)荷測(cè)量范圍：5～300VA

7、二次實(shí)際負(fù)荷測(cè)量準(zhǔn)度：≤0.5%±0.1VA關(guān)于預(yù)測(cè)科技未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)的10個(gè)定律，其中第九條是人工智能學(xué)家AIE實(shí)驗(yàn)室的研究成果。這些規(guī)律對(duì)判斷科技未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)從不同角度發(fā)揮著作用。從1969年互聯(lián)網(wǎng)誕生以來(lái)，互聯(lián)網(wǎng)發(fā)生了翻天覆地的變化，新的應(yīng)用不斷出現(xiàn)，從早期的線(xiàn)路，大型計(jì)算機(jī)，電子郵件，ftp，BBS，到今天的智能，搜索引擎，社交網(wǎng)絡(luò)，在繁雜的互聯(lián)網(wǎng)現(xiàn)象背后，到底有沒(méi)有規(guī)律可循，本文列出了10個(gè)關(guān)于科技未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)的定律和理論，其中來(lái)自的有一個(gè)，這些理論定律是否科學(xué)或者是否成立，也仍然需要得到時(shí)間的檢驗(yàn)和專(zhuān)家的評(píng)議。

3、HN12A互感器綜合分析儀（CT/PT分析儀）

功能簡(jiǎn)介：

1 勵(lì)磁特性試驗(yàn)

2 變比試驗(yàn)

3 相位和極性試驗(yàn)

4 CT一次電流及負(fù)荷時(shí)的比差、角差測(cè)量

5 CT二次繞組電阻測(cè)量

6 CT二次回路負(fù)荷測(cè)量

7 CT暫態(tài)特性測(cè)試與分析

8 CT升流試驗(yàn)

9 測(cè)量校核型號(hào)的CT、PT，包括保護(hù)CT、計(jì)量CT、TP級(jí)暫態(tài)CT、勵(lì)磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級(jí)PT等.

10 點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線(xiàn)、準(zhǔn)確限值系數(shù)、儀表保安系數(shù)、二次時(shí)間常數(shù)、剩磁系數(shù)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測(cè)量.

自動(dòng)給出點(diǎn)電壓/電流、 10％誤差曲線(xiàn)、 5％誤差曲線(xiàn)、準(zhǔn)確限值系數(shù)（ALF）、 儀表保安系數(shù)（FS）、 二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等參數(shù)。

但是市面上又幾乎找不到邏輯分析儀的差分探頭。使用485隔離模塊，配合示波器單端探頭觀測(cè)輸出波形。我們選用RSM485ECHT增強(qiáng)型隔離RS-485，支持500K波特率，能夠?qū)崿F(xiàn)485通訊的隔離。如。圖3RS485隔離模塊針對(duì)隔離之后的波形，使用示波器配合普通探頭觀測(cè)的波形，如：圖4隔離之后，示波器配合普通探頭捕獲的波形從圖片上可以看出，使用示波器+普通探頭測(cè)量隔離之后的485信號(hào)依然可以得到比較完波形，與差分探頭效果相當(dāng)。技術(shù)參數(shù)：

輸出電壓：0~180V (RMS)
輸出電流：0~12A，峰值36A
電壓測(cè)量：準(zhǔn)確度 ±0.1%
CT變比測(cè)量范圍：1~30000
PT變比測(cè)量范圍：1~30000

HN16A電子式互感器校驗(yàn)儀

具備對(duì)電子式互感器進(jìn)行角差、比差進(jìn)行校驗(yàn)的功能，并可對(duì)通信報(bào)文進(jìn)行全息分析，可以對(duì)數(shù)字互感器進(jìn)行通信故障測(cè)試以及準(zhǔn)度校驗(yàn)。

使用LabView開(kāi)發(fā)管理軟件，界面美觀，使用方便。電源和采樣輸入采取了大量的電磁兼容措施，能夠適應(yīng)復(fù)雜的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試環(huán)境。采用便攜式設(shè)計(jì)方案，方便試驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。

電子式互感器校驗(yàn)儀自身準(zhǔn)度0.05級(jí)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)0.2S等級(jí)以下的電子式互感器的校驗(yàn)。關(guān)于數(shù)采配置及現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試應(yīng)用的部分問(wèn)題，是工作者在實(shí)踐過(guò)程中時(shí)常會(huì)遇到的狀況。為什么記錄了許久但導(dǎo)出文件卻發(fā)現(xiàn)沒(méi)有數(shù)據(jù)，為什么采樣數(shù)據(jù)文件找不到，為什么趨勢(shì)圖不顯示，為什么設(shè)置了運(yùn)算公式卻沒(méi)顯示結(jié)果？本文為你詳細(xì)講解。事件數(shù)據(jù)與顯示數(shù)據(jù)的區(qū)別事件數(shù)據(jù)將各測(cè)量周期采集的數(shù)據(jù)按照設(shè)定的記錄周期進(jìn)行記錄。雖然記錄了詳細(xì)的數(shù)據(jù)，但是數(shù)據(jù)量較大。其記錄的數(shù)據(jù)格式為.TEV，記錄的數(shù)值為瞬時(shí)值，使用Excel打開(kāi)后的界面如所示。

HN17A極速互感器檢定裝置 

該裝置由HN17A極速互感器校驗(yàn)儀、電流負(fù)載箱、控制柜、電流互感器測(cè)試臺(tái)等幾個(gè)部分組成。在保持原技術(shù)特點(diǎn)的前提下，在電流互感器的快速測(cè)量、測(cè)試點(diǎn)的快速定位、以及負(fù)荷箱、變比的互感器覆蓋等方面有了很大的提高。

伏安特性綜合測(cè)試儀LED作為第四代光源，具有節(jié)能、環(huán)保、安全、低功耗、高亮度等特點(diǎn)。在過(guò)去1年的發(fā)展中，景觀亮化、LCD背光、室外照明、戶(hù)外大屏顯示等應(yīng)用在不同的時(shí)間段成為行業(yè)快速發(fā)展的驅(qū)動(dòng)力。LED行業(yè)不斷涌現(xiàn)的新應(yīng)用會(huì)推動(dòng)整個(gè)行業(yè)新一輪的發(fā)展。紅外熱像儀技術(shù)作為近年來(lái)備受關(guān)注的新興檢測(cè)技術(shù)，一直默默在幕后助力LED行業(yè)的發(fā)展。今天，小編將帶您了解福祿克工業(yè)紅外熱像儀在LED的精彩應(yīng)用。照明燈具表面發(fā)熱檢測(cè)LED燈罩表面溫度分布決定了LED燈具內(nèi)部散熱狀態(tài)，通過(guò)溫度分布的檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)LED燈具在正面散熱設(shè)計(jì)中的缺陷，避免因溫度過(guò)高而影響燈罩結(jié)構(gòu)強(qiáng)度及散熱性能。PID（PotentianInducedDegradation）是一種電勢(shì)誘導(dǎo)衰減現(xiàn)象，是指組件長(zhǎng)期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表面。使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子（FF），短路電流（Isc），開(kāi)路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低于設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)，發(fā)電能力也隨之下降。2010年，NREL和Solon證實(shí)了無(wú)論組件采取何種技術(shù)的P型晶硅電池，組件在負(fù)偏壓下都有PID的風(fēng)險(xiǎn)。